Resumen
El Microscopio de Fuerza Atómica conocido como AFM por sus siglas en ingles (Atomic Force Microscopy), es un tipo de microscopia electrónica que permite generar una imagen a través de la interacción de las fuerzas de repulsión entre una punta llamada ¨cantilever¨ y la superficie que se está midiendo, un laser alineado a la punta y un detector mide los cambios en la altura de esta, obteniéndose un mapa del área medida con la altura respectiva a cada punto, lo cual se aprecia en una escala de colores.
Esta obra está bajo una licencia internacional Creative Commons Atribución-NoComercial 4.0.
Descargas
Los datos de descargas todavía no están disponibles.